每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結構，晶體結構不同則X射線衍射花樣也就各不相同。

1887年，Hertz建立了XPS技術的理論模型。

根據(jù)衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

熱分析技術中，試樣用量越多，熱效應大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導致峰形擴大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。