付立葉紅外及差譜技術(shù)，紅外二向色性，二維相關(guān)紅外，動態(tài)紅外光譜和表面紅外技術(shù)等。
最新試題
在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。
電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。
1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
拉曼光譜分析儀在使用過程中，正確的實(shí)驗(yàn)操作有（）。
掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。
