單項(xiàng)選擇題壓電晶片的壓電應(yīng)變常數(shù)高，其品片發(fā)射性能好，壓電電壓常數(shù)高，其晶片（）性能好。
A.接收
B.轉(zhuǎn)化
C.轉(zhuǎn)變
D.固定
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1.單項(xiàng)選擇題用于剩磁檢驗(yàn)的材料的剩余磁感應(yīng)強(qiáng)度應(yīng)在0.8T以上，矯頑力在（）
A.600A/m
B.700A/m
C.800A/m
D.900A/m
2.單項(xiàng)選擇題探頭的掃查范圍取決于探頭有效尺寸和（）
A.實(shí)際尺寸
B.設(shè)計(jì)尺寸
C.儀器準(zhǔn)確率
D.儀器重復(fù)頻率
3.單項(xiàng)選擇題A型顯示超聲儀的發(fā)射電路中，電阻大時(shí)阻尼小，（）大分辨低。
A.接受強(qiáng)度
B.發(fā)射強(qiáng)度
C.接收強(qiáng)度
D.收到強(qiáng)度
4.單項(xiàng)選擇題對(duì)新安裝探頭及（）探頭，微機(jī)探傷操作人員須依據(jù)微機(jī)控制超聲波探頭性能測(cè)試方法進(jìn)行檢測(cè)。
A.使用一周
B.使用期超過兩周的
C.使用超過三周
D.使用超過四周
5.單項(xiàng)選擇題磁吸附檢測(cè)時(shí)，磁頭工作電流為（）磁頭磁場(chǎng)強(qiáng)度為120KA/m。
A.13A
B.14A
C.15A
D.16A
最新試題
采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
對(duì)于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進(jìn)行掃查。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
用于測(cè)量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì)，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測(cè)量黑光。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)中的對(duì)比試樣的（）和材質(zhì)相對(duì)被檢測(cè)產(chǎn)品必須具有代表性。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí)，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)線圈的自感式線圈由（）構(gòu)成。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
波束截面中心聲能（），隨著與中心的距離的增大，聲能（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置在（）材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題