A.白點(diǎn)是一種非金屬夾雜物
B.白點(diǎn)通常發(fā)生在鍛件中心部位
C.白點(diǎn)的回波清晰、尖銳，往往有多個(gè)波峰同時(shí)出現(xiàn)
D.一旦判斷是白點(diǎn)缺陷，該鍛件即為不合格
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A.校正方法簡單
B.對大于3N和小于3N的鍛件都適用
C.可以克報(bào)探傷面形狀對靈敏度的影響
D.不必考慮材質(zhì)差異
A.無底面回波或底面回波降低
B.難以發(fā)現(xiàn)平行探測面的缺陷
C.聲波穿透能力下降
D.缺陷回波受底面回波影響
A.組織不均勻
B.晶粒非常粗
C.表明非常粗糙
D.以上都對
A.不同的探測頻率
B.不同的晶片尺寸
C.不同示波屏尺寸的A型探傷儀
D.以上都是
A.鋼板
B.鋼管
C.鍛鋼件
D.鑄鋼件
最新試題
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度，即（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
儀器水平線性影響（）。