A.無(wú)底面回波或底面回波降低 B.難以發(fā)現(xiàn)平行探測(cè)面的缺陷 C.聲波穿透能力下降 D.缺陷回波受底面回波影響
A.組織不均勻 B.晶粒非常粗 C.表明非常粗糙 D.以上都對(duì)
A.不同的探測(cè)頻率 B.不同的晶片尺寸 C.不同示波屏尺寸的A型探傷儀 D.以上都是