單項(xiàng)選擇題

下面有關(guān)“幻想波”的敘述哪點(diǎn)是不正確的（）

A.幻象回波通常在鍛件探傷中出現(xiàn)
B.幻象波會(huì)在掃描線上連續(xù)移動(dòng)
C.幻象波只可能出現(xiàn)在一次底波前
D.降低復(fù)重頻率，可消除幻象波

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單項(xiàng)選擇題
鍛件探傷中，熒光屏上出現(xiàn)“林狀波”時(shí)，是由于（）
A.工件中有大面積傾斜缺陷
B.工件材料晶粒粗大
C.工件中有密集缺陷
D.以上全部
單項(xiàng)選擇題
探測(cè)距離均為100mm的底面，用同樣規(guī)格直探頭以相同靈敏度探測(cè)時(shí)，下列哪種底面回波最高、（）
A.與探測(cè)面平行的大平底面
B.R200的凹圓柱底面
C.R200的凹球底面
D.R200的凸圓柱底面
單項(xiàng)選擇題
與探測(cè)面垂直的內(nèi)部平滑缺陷，最有效的探測(cè)方法是：（）
A.單斜探頭法
B.單直探頭法
C.雙斜探頭前后串列法
D.分割式雙直探頭法
單項(xiàng)選擇題
超聲容易探測(cè)到的缺陷尺寸一般不小于：（）
A.波長(zhǎng)的一半
B.一個(gè)波長(zhǎng)
C.四分之一波長(zhǎng)
D.若干個(gè)波長(zhǎng)
單項(xiàng)選擇題
探測(cè)粗糙表面的工件時(shí)，為提高聲能傳遞，應(yīng)選用：（）
A.聲阻抗小且粘度大的耦合劑
B.聲阻抗小且粘度小的耦合劑
C.聲阻抗大且粘度大的耦合劑
D.以上都不是
單項(xiàng)選擇題
考慮靈敏度補(bǔ)償?shù)睦碛墒牵海ǎ?/h4>
A.被檢工件厚度太大
B.工件底面與探測(cè)面不平行
C.耦合劑有較大聲能損耗
D.工件與試塊材質(zhì)，表面光潔度有差異
單項(xiàng)選擇題
在確定缺陷當(dāng)量時(shí)，通常在獲得缺陷的最高回波時(shí)加以測(cè)定，這是因?yàn)椋ǎ?/h4>
A.只有當(dāng)聲束投射到整個(gè)缺陷發(fā)射面上才能得到反射回波最大值
B.只有當(dāng)聲束沿中心軸線投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值
C.只有當(dāng)聲束垂直投射到工件內(nèi)缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值
D.人為地將缺陷信號(hào)的最高回波規(guī)定為測(cè)定基準(zhǔn)
單項(xiàng)選擇題
測(cè)定材質(zhì)衰減時(shí)所得結(jié)果除材料本身衰減外，還包括：（）
A.聲束擴(kuò)散損失
B.耦合損耗
C.工件幾何形狀影響
D.以上都是
單項(xiàng)選擇題
下面哪種參考反射體與入射聲束角度無(wú)關(guān)：（）
A.平底孔
B.平行于探測(cè)面且垂直于聲束的平底槽
C.平行于探測(cè)面且垂直于聲束的橫通孔
D.平行于探測(cè)面且垂直于聲束的V型缺口
單項(xiàng)選擇題
應(yīng)用有人工反射體的參考試塊主要目的是：（）
A.作為探測(cè)時(shí)的校準(zhǔn)基準(zhǔn)，并為評(píng)價(jià)工件中缺陷嚴(yán)重程度提供依據(jù)
B.為探傷人員提供一種確定缺陷實(shí)際尺寸的工具
C.為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證
D.提供一個(gè)能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體

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下面有關(guān)“幻想波”的敘述哪點(diǎn)是不正確的（）

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鍛件探傷中，熒光屏上出現(xiàn)“林狀波”時(shí)，是由于（）

探測(cè)距離均為100mm的底面，用同樣規(guī)格直探頭以相同靈敏度探測(cè)時(shí)，下列哪種底面回波最高、（）

與探測(cè)面垂直的內(nèi)部平滑缺陷，最有效的探測(cè)方法是：（）

超聲容易探測(cè)到的缺陷尺寸一般不小于：（）

探測(cè)粗糙表面的工件時(shí)，為提高聲能傳遞，應(yīng)選用：（）

考慮靈敏度補(bǔ)償?shù)睦碛墒牵海ǎ?/h4>
A.被檢工件厚度太大
B.工件底面與探測(cè)面不平行
C.耦合劑有較大聲能損耗
D.工件與試塊材質(zhì)，表面光潔度有差異

測(cè)定材質(zhì)衰減時(shí)所得結(jié)果除材料本身衰減外，還包括：（）

下面哪種參考反射體與入射聲束角度無(wú)關(guān)：（）

應(yīng)用有人工反射體的參考試塊主要目的是：（）

下面有關(guān)“幻想波”的敘述哪點(diǎn)是不正確的（）

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鍛件探傷中，熒光屏上出現(xiàn)“林狀波”時(shí)，是由于（）

探測(cè)距離均為100mm的底面，用同樣規(guī)格直探頭以相同靈敏度探測(cè)時(shí)，下列哪種底面回波最高、（）

與探測(cè)面垂直的內(nèi)部平滑缺陷，最有效的探測(cè)方法是：（）

超聲容易探測(cè)到的缺陷尺寸一般不小于：（）

探測(cè)粗糙表面的工件時(shí)，為提高聲能傳遞，應(yīng)選用：（）

考慮靈敏度補(bǔ)償?shù)睦碛墒牵海ǎ?/h4> A.被檢工件厚度太大 B.工件底面與探測(cè)面不平行 C.耦合劑有較大聲能損耗 D.工件與試塊材質(zhì)，表面光潔度有差異 點(diǎn)擊查看答案手機(jī)看題

測(cè)定材質(zhì)衰減時(shí)所得結(jié)果除材料本身衰減外，還包括：（）

下面哪種參考反射體與入射聲束角度無(wú)關(guān)：（）

應(yīng)用有人工反射體的參考試塊主要目的是：（）

鍛件探傷中，熒光屏上出現(xiàn)“林狀波”時(shí)，是由于（）

探測(cè)距離均為100mm的底面，用同樣規(guī)格直探頭以相同靈敏度探測(cè)時(shí)，下列哪種底面回波最高、（）

探測(cè)粗糙表面的工件時(shí)，為提高聲能傳遞，應(yīng)選用：（）

考慮靈敏度補(bǔ)償?shù)睦碛墒牵海ǎ?/h4>
A.被檢工件厚度太大
B.工件底面與探測(cè)面不平行
C.耦合劑有較大聲能損耗
D.工件與試塊材質(zhì)，表面光潔度有差異