A.縱向磁場(chǎng)、橫向缺陷
B.周向磁場(chǎng)、縱向缺陷
C.縱向磁場(chǎng)、縱向缺陷
D.周向磁場(chǎng)、橫向缺陷
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A.表面裂紋形成的強(qiáng)
B.近表面裂紋形成的強(qiáng)
C.兩者無(wú)區(qū)別
D.上述都不對(duì)
A.材料被磁化難易程度
B.材料中磁場(chǎng)的穿透深度
C.工件需要退磁時(shí)間的長(zhǎng)短
D.保留磁場(chǎng)的能力
A.檢測(cè)非鐵磁性材料表面和近表面缺陷
B.檢測(cè)鐵磁性材料表面和近表面缺陷
C.檢測(cè)鐵磁性材料內(nèi)部缺陷
D.各種不同材料的分選
A.探測(cè)熱影響區(qū)裂縫
B.探測(cè)可能影響斜探頭探測(cè)結(jié)果的分層
C.提高焊縫兩側(cè)母材驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn),以保證焊縫質(zhì)量
D.以上都對(duì)
A.讓工件充分冷卻
B.焊縫材料組織需穩(wěn)定
C.冷裂紋有延時(shí)產(chǎn)生的特點(diǎn)
D.以上都對(duì)
最新試題
下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述,不正確的一項(xiàng)是()
在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)(r、R為簡(jiǎn)體的內(nèi)、外徑),斜探頭(β為折射角)的臨界角應(yīng)滿足()
物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變()
底片清晰度和膠片與被照件貼緊程度的關(guān)系是()
以下試塊中,能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是()
探頭的分辨力()
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括()
以下哪一種措施不能減小上表面盲區(qū)的影響()
當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí),部分被物體吸收,部分則穿透該物體,還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射,此散射為()
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線,穿過(guò)一個(gè)厚度為X的物質(zhì),其強(qiáng)度降低量為I,可用I=-μI0X表示,μ為比例常數(shù),此式代表什么現(xiàn)象()