單項(xiàng)選擇題磁粉探傷是一種利用由缺陷產(chǎn)生的漏磁場對(duì)磁粉吸引現(xiàn)象為基本原理的無損檢測方法,這種方法可用于:()。
A.檢測非鐵磁性材料表面和近表面缺陷
B.檢測鐵磁性材料表面和近表面缺陷
C.檢測鐵磁性材料內(nèi)部缺陷
D.各種不同材料的分選
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
1.單項(xiàng)選擇題用直探頭探測焊縫兩側(cè)母材的目的是()
A.探測熱影響區(qū)裂縫
B.探測可能影響斜探頭探測結(jié)果的分層
C.提高焊縫兩側(cè)母材驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn),以保證焊縫質(zhì)量
D.以上都對(duì)
2.單項(xiàng)選擇題通常要求焊縫探傷在焊后48小時(shí)進(jìn)行是因?yàn)椋海ǎ?/a>
A.讓工件充分冷卻
B.焊縫材料組織需穩(wěn)定
C.冷裂紋有延時(shí)產(chǎn)生的特點(diǎn)
D.以上都對(duì)
3.單項(xiàng)選擇題金屬材料中的粗大晶粒可能引起:()。
A.底波降低或消失
B.噪聲或雜波增大
C.超聲波嚴(yán)重衰減
D.以上都有
4.單項(xiàng)選擇題斜探頭探傷時(shí)試塊上最常用的反射體是:()。
A.平底孔
B.長橫孔
C.大平底
D.以上都可以
5.單項(xiàng)選擇題Φ12mm晶片5MHz直探頭在鋼中的指向角是:()。
A.5.6º
B.3.5º
C.6.8º
D.24.6º
最新試題
影響較大的散射線通常來自()
題型:單項(xiàng)選擇題
康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測的影響包括()
題型:單項(xiàng)選擇題
超聲波探頭上標(biāo)稱的頻率是()
題型:單項(xiàng)選擇題
底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是()
題型:單項(xiàng)選擇題
使用變型波檢測的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是()
題型:單項(xiàng)選擇題
某超聲波探頭,壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm,則該探頭工作頻率為()
題型:單項(xiàng)選擇題
通常所謂20KV的X射線是指()
題型:單項(xiàng)選擇題
光電效應(yīng)發(fā)生的機(jī)率隨什么變化()
題型:單項(xiàng)選擇題
底片的最佳黑度值與觀片燈的亮度有關(guān),觀片燈亮度改變,最佳黑度值也將改變。
題型:判斷題
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于()
題型:多項(xiàng)選擇題