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填空題目視檢測(cè)中最常用的內(nèi)窺鏡主要有（）和（）兩種類型。

1.填空題超聲檢測(cè)適合檢測(cè)（）型缺陷，而射線檢測(cè)適合檢測(cè)（）型缺陷。

2.填空題射線照相檢測(cè)中，缺陷的取向與射線方向（）時(shí)，可在底片上獲得最清晰的缺陷影像。

3.填空題射線輻射防護(hù)的三種基本方式是（），（），（）。

4.填空題X射線照相檢測(cè)時(shí)的工藝參數(shù)最重要的是（），（），（），（）等。

5.填空題鑄件內(nèi)部缺陷最適合采用（）檢測(cè)方法。