小口徑管道射線(xiàn)探傷時(shí)常采用（）方法透照。

與直探頭相比，雙晶探頭（）

在射線(xiàn)照相時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在（）

表征平面圓晶片發(fā)射的超聲束特征的主要是（）

鐵磁材料達(dá)到居里點(diǎn)時(shí)，會(huì)發(fā)生什么現(xiàn)象（）

射線(xiàn)照像底片上產(chǎn)生黑色樹(shù)枝狀花紋的原因是（）

關(guān)于圓晶片輻射的超聲波，下列說(shuō)法正確的是（）（S為傳播距離，N為近場(chǎng)長(zhǎng)度）。

脈沖反射法A型顯示取得缺陷信息是根據(jù)（）

感應(yīng)電流法磁化工件主要采用（）

半價(jià)層厚度與（）相關(guān)。