采用兩個斜探頭（一收一發(fā)）交叉（）的掃查方式叫做交叉掃查。

在探傷中選用較高的頻率，將會使得（）因而發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力強(qiáng)，可提高對缺陷的定位精度。

剝離層下核傷可采用軌顎法進(jìn)行校對，用軌顎校對法校對時，需在鋼軌表面校對的靈敏度的基礎(chǔ)上增加（）。

探傷中探頭晶片尺寸增加，相應(yīng)的（）對探傷有利。

焊縫探傷中斜探頭K值的選擇原則是（）。

由于各種試件的結(jié)構(gòu)、質(zhì)量要求不同，可能缺陷的（）不一樣，因而探測面可能是試件的所有面，也可能是其中的幾個面，甚至只有一個可探測面。

使用雙探頭掃查時，如盲目改變掃查方向，將會導(dǎo)致（）。

在橫波探傷中，探頭K值對探傷（）有較大的影響。

探傷工藝規(guī)程編制應(yīng)對受檢工件的（）做好記錄。

鋼軌魚鱗地段探測中應(yīng)注意（）。