A、ACD
B、CAP
C、CAN
D、CAI
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A、電子數(shù)據(jù)處理
B、人工智能
C、管理信息系統(tǒng)
D、決策支持系統(tǒng)
A、IBM
B、MICROSOFT
C、惠普
D、索尼
A、電子管
B、晶體管
C、中小規(guī)模集成電路
D、大規(guī)模、超大規(guī)模集成電路
A、運(yùn)算速度快、運(yùn)算精度高、應(yīng)用范圍廣、能連續(xù)的、自動(dòng)地運(yùn)行工作
B、運(yùn)算速度快、運(yùn)算精度高、存儲(chǔ)容量大、處理信息多
C、運(yùn)算速度快、運(yùn)算精度高、存儲(chǔ)容量大、能連續(xù)的、自動(dòng)地運(yùn)行工作
D、運(yùn)算速度快、運(yùn)算精度高、應(yīng)用范圍廣、能連續(xù)的、處理信息多
A、普遍性
B、可傳遞性
C、可共享性
D、載體、方式可變性
最新試題
以下不屬于黑盒測(cè)試發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤類型的是()
TestManager使用時(shí)首先需要()
若按用戶要求分,軟件測(cè)試可分為()
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下面關(guān)于邊界值測(cè)試說(shuō)法錯(cuò)誤的是()
以下哪種集成測(cè)試從程序模塊結(jié)構(gòu)中最底層的模塊開(kāi)始組裝和測(cè)試()
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