A、電子數(shù)據(jù)處理
B、人工智能
C、管理信息系統(tǒng)
D、決策支持系統(tǒng)
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A、IBM
B、MICROSOFT
C、惠普
D、索尼
A、電子管
B、晶體管
C、中小規(guī)模集成電路
D、大規(guī)模、超大規(guī)模集成電路
A、運(yùn)算速度快、運(yùn)算精度高、應(yīng)用范圍廣、能連續(xù)的、自動(dòng)地運(yùn)行工作
B、運(yùn)算速度快、運(yùn)算精度高、存儲(chǔ)容量大、處理信息多
C、運(yùn)算速度快、運(yùn)算精度高、存儲(chǔ)容量大、能連續(xù)的、自動(dòng)地運(yùn)行工作
D、運(yùn)算速度快、運(yùn)算精度高、應(yīng)用范圍廣、能連續(xù)的、處理信息多
A、普遍性
B、可傳遞性
C、可共享性
D、載體、方式可變性
A、二進(jìn)制編碼
B、八進(jìn)制編碼
C、十進(jìn)制編碼
D、十六進(jìn)制編碼
最新試題
下面對(duì)白盒測(cè)試的目的描述正確的是()
TestManager使用時(shí)首先需要()
以下不屬于黑盒測(cè)試發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤類型的是()
編寫功能需求規(guī)格說明時(shí)不需要描述的是()
下面關(guān)于判定表規(guī)則及規(guī)則合并描述錯(cuò)誤的是()
以下哪種工具可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)地確定一個(gè)基本路徑集()
增殖式集成方式不包括()
以下哪項(xiàng)不屬于軟件測(cè)試工具選擇的主要衡量指標(biāo)()
以下哪種集成測(cè)試從程序模塊結(jié)構(gòu)中最底層的模塊開始組裝和測(cè)試()
RUP軟件測(cè)試流程最后的測(cè)試步驟是()