判斷題判斷可控硅是否擊穿,可用萬用表R10K檔測量陽陰極的正反向電阻,阻值應很小,否則說明擊穿。

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最新試題

根據球形反射體返回晶片聲壓的計算公式與圓柱形平面反射體的表達式進行比較可知,在反射體直徑相同的情況下,圓形反射體的反射聲壓比球形反射體的反射壓小。

題型:判斷題

無論聲波相對于缺陷是垂直入射還是斜入射,缺陷大小不同其反射波的指向性有相當大的差異。

題型:判斷題

對于比正常縱波底面回波滯后的變形波稱為遲到回波。

題型:判斷題

當探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時,而又沒有進行適當的補償,會使定量誤差增加,精度下降。

題型:判斷題

高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無機物絕緣體高溫同軸電纜。

題型:判斷題

衍射時差法對缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測量精確,實時成像,快速分析。

題型:判斷題

分辯率可使用通用探傷儀進行測量,測試時儀器抑制置“零”或“開”位,必要時可加匹配線圈。

題型:判斷題

儀器時基線調節(jié)比例時,若回波前沿沒有對準相應垂直刻度或讀數不準,會使缺陷定位誤差增加。

題型:判斷題

橫波檢測平板對接焊縫根部未焊透等缺陷時,不同K值探頭檢測同一根部缺陷,其回波高相差不大。

題型:判斷題

檢測曲面工件時,探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。

題型:判斷題