A、角度調(diào)整；
B、掃描；
C、距離-幅度變化修正；
D、標(biāo)定。
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A.一次反射波和始波
B.三次不同的反射波
C.二次反射波和始波
D.二次不同的反射波
A.當(dāng)量法
B.測(cè)長(zhǎng)法
C.半波高度法
D.絕對(duì)靈敏度法
A.與探測(cè)面成某一角度的缺陷
B.與波束軸線垂直的片狀缺陷和立體狀缺陷
C.與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷
D.與探測(cè)面垂直的橫向缺陷
A.水平距離
B.深度
C.聲程及折射角度
D.聲程
A.l=S×cosβ
B.l=S×sinβ
C.l=S×tanβ
D.l=S×cotβ
A.表面波法
B.縱波法
C.導(dǎo)波法
D.橫波法
A.時(shí)基線調(diào)節(jié)
B.工件溫度
C.探頭聲束偏離
D.工件表面狀態(tài)
A.評(píng)定靈敏度
B.檢測(cè)靈敏度
C.掃查靈敏度
D.定量靈敏度
A.垂直線性
B.水平線性
C.動(dòng)態(tài)范圍
D.分辨率
A.定位
B.長(zhǎng)度測(cè)量
C.高度測(cè)量
D.定量
最新試題
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)（），其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
儀器水平線性影響（）。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
底波計(jì)算法是利用（）與平底孔反射回波相差的分貝（dB）值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。