A.線圈內(nèi)緣;
B.線圈外緣;
C.線圈中心;
D.線圈端頭
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A.H=I/2πr;
B.H=2πr/I;
C.H=2π/Ir;
D.H=2r/πI
A.高斯;
B.亨利;
C.法拉;
D.安培
A.電流:符號(hào)-I,單位-安培;
B.磁導(dǎo)率:符號(hào)-μ,單位-亨利/米;
C.磁通密度:符號(hào)-B,單位-高斯,國(guó)際單位制單位-特斯拉;
D.磁場(chǎng)強(qiáng)度:符號(hào)-H,單位-奧斯特,國(guó)際單位制單位-安/米;
E.以上都對(duì)
A.電場(chǎng)強(qiáng)度;
B.磁感應(yīng)強(qiáng)度;
C.磁場(chǎng)強(qiáng)度;
D.磁通量
A.電場(chǎng)強(qiáng)度;
B.磁感應(yīng)強(qiáng)度;
C.磁場(chǎng)強(qiáng)度;
D.磁通量
最新試題
在工件內(nèi)部的剩磁,周向磁化要比縱向磁化大的多。
退磁就是消除材料磁化后的剩余磁場(chǎng)使其達(dá)到無(wú)磁狀態(tài)的過(guò)程。
熒光磁粉檢測(cè)時(shí),磁痕的評(píng)定應(yīng)在暗室或暗處進(jìn)行,暗室或暗處可見(jiàn)光照度應(yīng)不小于20Lx。
打亂材料磁疇排布的兩種方法是:加熱到居里點(diǎn)溫度以上熱處理退磁法和反磁場(chǎng)退磁法。
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí),檢測(cè)靈敏度不僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān),還受被檢工件材質(zhì)的影響。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:磁粉檢測(cè)時(shí)一般應(yīng)選用A1-60/100型標(biāo)準(zhǔn)試片。
相關(guān)顯示是由漏磁場(chǎng)吸附磁粉形成的磁痕顯示。
濕法用磁粉粒度一般比干法小。
采用濕法時(shí),應(yīng)確認(rèn)整個(gè)檢測(cè)面被磁懸液濕潤(rùn)后,再施加磁懸液。
一般說(shuō)來(lái),進(jìn)行了周向磁化工件的退磁,應(yīng)先進(jìn)行一次縱向磁化。