A.高斯;
B.亨利;
C.法拉;
D.安培
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你可能感興趣的試題
A.電流:符號(hào)-I,單位-安培;
B.磁導(dǎo)率:符號(hào)-μ,單位-亨利/米;
C.磁通密度:符號(hào)-B,單位-高斯,國(guó)際單位制單位-特斯拉;
D.磁場(chǎng)強(qiáng)度:符號(hào)-H,單位-奧斯特,國(guó)際單位制單位-安/米;
E.以上都對(duì)
A.電場(chǎng)強(qiáng)度;
B.磁感應(yīng)強(qiáng)度;
C.磁場(chǎng)強(qiáng)度;
D.磁通量
A.電場(chǎng)強(qiáng)度;
B.磁感應(yīng)強(qiáng)度;
C.磁場(chǎng)強(qiáng)度;
D.磁通量
A、鐵磁性材料有磁滯現(xiàn)象
B、隨著含碳量增高,矯頑力增大
C、鐵磁性材料的磁導(dǎo)率μ遠(yuǎn)大于1,它是與外磁場(chǎng)變化無(wú)關(guān)的常數(shù)
D、鐵磁性材料比順磁性材料較難達(dá)到飽和狀態(tài)
E、A和B都對(duì)
A.磁導(dǎo)率略小于1的材料;
B.磁導(dǎo)率遠(yuǎn)大于1的材料;
C.磁導(dǎo)率接近于1的材料;
D.磁導(dǎo)率等于1的材料
最新試題
剩磁法不能用于干法檢測(cè)。
對(duì)于交流線圈,線圈中的工件將影響電流的調(diào)整。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于2mm時(shí),按一條磁痕處理,其長(zhǎng)度為兩條磁痕之和加間距。
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:當(dāng)辯認(rèn)細(xì)小缺陷磁痕時(shí)應(yīng)用2~10倍放大鏡進(jìn)行觀察。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
采用濕法時(shí),應(yīng)確認(rèn)整個(gè)檢測(cè)面被磁懸液濕潤(rùn)后,再施加磁懸液。
磁懸液應(yīng)采用軟管沖淋或浸漬法施加于工件表面。
磁粉檢測(cè),所有的磁痕尺寸、數(shù)量和產(chǎn)生部位均應(yīng)記錄并圖示。
在黑光燈下檢查熒光磁懸液的載液發(fā)出明顯的熒光,即可判定磁懸液污染。
用連續(xù)法檢測(cè)時(shí),檢測(cè)靈敏度不僅與被檢工件表面磁場(chǎng)強(qiáng)度有關(guān),還受被檢工件材質(zhì)的影響。