A.零件形狀不規(guī)則;
B.零件具有高頑磁性;
C.零件承受高應(yīng)力作用;
D.進一步評定連續(xù)法形成的顯示
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A.形狀不規(guī)則;
B.有很高的剩磁和矯頑力;
C.零件材料強度高、硬度大;
D.驗證連續(xù)法的靈敏度
A.由于電源的允許通電時間短,采用一邊通電幾次、一邊施加磁懸液的方法,這不是正常的連續(xù)法操作
B.剩磁法適用于焊接缺陷的探傷;
C.剩磁法要用直流電,如用交流電,必須采用斷電相位控制器;
D.A和C
A、切斷磁化電流后施加磁懸液的方法叫作剩磁法
B、高矯頑力材料制成的零件可以用剩磁法探傷
C、熒光磁粉與非熒光磁粉相比,一般說前者的磁懸液濃度要低
D、以上都對
A、內(nèi)部缺陷處的漏磁通,比同樣大小的表面缺陷為大
B、缺陷的漏磁通通常同試件上的磁通密度成反比
C、表面缺陷的漏磁通密度,隨著離開表面距離的增加而急劇減弱
D、用有限線圈磁化長的試件,不需進行分段磁化
A.缺陷離試件表面越近,形成的漏磁通越小
B.在磁化狀態(tài)、缺陷類型和大小為一定時,其漏磁通密度受缺陷方向影響
C.交流磁化時,近表面缺陷的漏磁通比直流磁化時的漏磁通要小
D.在磁場強度、缺陷類型和大小為一定時,其漏磁通密度受磁化方向影響;
E.除A以外都對
最新試題
磁懸液應(yīng)采用軟管沖淋或浸漬法施加于工件表面。
一般說來,進行了周向磁化工件的退磁,應(yīng)先進行一次縱向磁化。
在不退磁的情況下,周向磁化產(chǎn)生的剩磁比縱向磁化產(chǎn)生的剩磁有更大的危害性。
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場中,逐漸減小電流至零。
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
采用剩磁法時,磁懸液應(yīng)在通電結(jié)束后再施加,一般通電時間為2~3s。
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:磁粉檢測時一般應(yīng)選用A1-60/100型標準試片。
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:剩磁應(yīng)不大于0.3mT(240A/m)。
磁粉檢測,所有的磁痕尺寸、數(shù)量和產(chǎn)生部位均應(yīng)記錄并圖示。
JB/T4730.4-2005標準規(guī)定:當(dāng)辯認細小缺陷磁痕時應(yīng)用2~10倍放大鏡進行觀察。