A、鋁錠的縱波接觸法探傷
B、鋼管的橫波接觸法探傷
C、金屬板材的接觸法探傷
D、水浸法探測小口徑薄壁管
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、縱波接觸法
B、水浸探傷法
C、橫波接觸法
D、表面波接觸法
A、三平底孔試塊的探測面表面狀態(tài)不一致
B、近場的影響
C、孔的幾何形狀不正確
D、以上都是
A、能提高探測速度
B、易于控制聲束入射方向
C、易實現(xiàn)自動探傷
D、以上都是
A、>6分貝
B、>2%
C、<6分貝
D、≤2%
A、>8%
B、≤8%
C、20分貝
D、6分貝
最新試題
對于圓柱導體的外通過式線圈,其阻抗變大的情況有()
下面列出的確定透照布置應考慮的基本內(nèi)容中,錯誤的是()。
X光檢驗組按復查清單組織復查,并出具X光底片復查報告,復查無遺留問題方可進行試壓。
按輻射安全管理規(guī)定,輻射作業(yè)場所每周應進行一次輻射劑量檢測。
對焊接接頭穩(wěn)定時間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應作出規(guī)定,檢驗監(jiān)控確認,檢驗蓋章時穩(wěn)定時間不足者應在申請單注明穩(wěn)定時間節(jié)點,否則X光室視為穩(wěn)定時間符合要求。
一次完整的兩面多層補焊,當正面打底層質(zhì)量進行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。
觀察底片時,為能識別缺陷圖像,缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應不小于識別閾值。
為了提高射線照相對比度,可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。
一次完整的補焊過程中缺陷是否排除X光透照確認可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
對含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()