單項(xiàng)選擇題靠近探頭的缺陷不一定都能探測到,因?yàn)橛校ǎ?/strong>

A、聲束擴(kuò)散
B、材質(zhì)衰減
C、儀器阻塞效應(yīng)
D、折射


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1.單項(xiàng)選擇題萊姆波可用于檢查()

A、鍛件
B、棒坯
C、鑄錠
D、薄板

3.單項(xiàng)選擇題由發(fā)射探頭發(fā)射的超聲波,通過試件后再由另一接收探頭接收,這種檢驗(yàn)方法稱為()

A、表面波法
B、斜射法
C、穿透法
D、垂直法

4.單項(xiàng)選擇題因工件表面粗糙使超聲波束產(chǎn)生的漫射叫做()

A、角度調(diào)整 
B、散射 
C、折射 
D、擴(kuò)散

5.單項(xiàng)選擇題晶片厚度和探頭頻率是相關(guān)的,晶片越厚,則()

A、頻率越低 
B、頻率越高 
C、無明顯影響

最新試題

一次完整的兩面多層補(bǔ)焊,當(dāng)正面打底層質(zhì)量進(jìn)行過一次X射線檢測,若反面還需打底,則無需X射線檢測。

題型:判斷題

超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測。

題型:判斷題

按輻射安全管理規(guī)定,輻射作業(yè)場所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測。

題型:判斷題

射線檢測最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。

題型:單項(xiàng)選擇題

對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型:判斷題

下面列出的確定透照布置應(yīng)考慮的基本內(nèi)容中,錯(cuò)誤的是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

下面給出的射線檢測基本原理中,正確的是()。

題型:單項(xiàng)選擇題

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

題型:判斷題

二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請(qǐng)手續(xù)。

題型:判斷題

對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。

題型:判斷題