單項選擇題晶片與探測面平行,使超聲波垂直于探測面而進入被檢材料的檢驗方法稱為()
A、垂直法
B、斜射法
C、表面波法
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1.單項選擇題由發(fā)射探頭發(fā)射的超聲波,通過試件后再由另一接收探頭接收,這種檢驗方法稱為()
A、表面波法
B、斜射法
C、穿透法
D、垂直法
2.單項選擇題因工件表面粗糙使超聲波束產(chǎn)生的漫射叫做()
A、角度調(diào)整
B、散射
C、折射
D、擴散
3.單項選擇題晶片厚度和探頭頻率是相關(guān)的,晶片越厚,則()
A、頻率越低
B、頻率越高
C、無明顯影響
4.單項選擇題為減小超聲波通過介質(zhì)時的衰減和避免林狀回波,宜采用()進行探傷
A、高頻率、橫波
B、較低頻率、橫波
C、高頻率、縱波
D、較低頻率、縱波
5.單項選擇題超聲波垂直入射至異質(zhì)界面時,反射波和透射波的()
A、波型不變
B、波型變換
C、傳播方向改變
最新試題
射線檢測最有害的危險源是(),必須嚴加控制。
題型:單項選擇題
廢舊藥液應(yīng)采用專用容器收集,定期送指定的機構(gòu)處理。
題型:判斷題
底片或電子圖片、X射線照相檢驗記錄、射線檢測報告副本、檢測報告等及臺帳由X光透視人員負責(zé)管理。
題型:判斷題
焊接工藝處理超標缺陷必須閱片的主要目的是()。
題型:單項選擇題
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
題型:判斷題
在射線照相檢驗中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
題型:判斷題
缺陷分類應(yīng)符合驗收標準的要求,標準未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷,必要時可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。
題型:判斷題
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
題型:判斷題
下面給出的射線檢測基本原理中,正確的是()。
題型:單項選擇題
檢測申請時工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗蓋章確認,確保焊接、檢驗、檢測等全過程具有可追溯性。
題型:判斷題