單項(xiàng)選擇題超聲波從一種介質(zhì)進(jìn)入另一介質(zhì),入射聲束軸線(xiàn)與界面法線(xiàn)所成的夾角稱(chēng)為()

A、入射角
B、折射角
C、擴(kuò)散角
D、反射角


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1.單項(xiàng)選擇題超聲波從一種介質(zhì)進(jìn)入另一介質(zhì)后,其聲束軸線(xiàn)與界面法線(xiàn)所成的夾角稱(chēng)為()

A、入射角 
B、折射角 
C、擴(kuò)散角 
D、反射角

2.單項(xiàng)選擇題超聲波投射到界面上,在同一介質(zhì)中改變其傳播方向的現(xiàn)象叫做()

A、發(fā)散 
B、擴(kuò)散 
C、角度調(diào)整 
D、反射

3.單項(xiàng)選擇題波束擴(kuò)散角是晶片尺寸和所通過(guò)的介質(zhì)中聲波波長(zhǎng)的函數(shù),并且()

A、頻率或晶片直徑減少時(shí)增大
B、頻率或晶片直徑減少時(shí)減少
C、頻率增加而晶片直徑減少時(shí)減少

4.單項(xiàng)選擇題傳播速度略小于橫波,不向材料內(nèi)部傳播的超聲波是()

A、表面波
B、板波
C、萊姆波
D、縱波

5.單項(xiàng)選擇題在固體表面能沿園滑過(guò)渡的邊角傳播的超聲波稱(chēng)為()

A、橫波 
B、表面波 
C、縱波

最新試題

X射線(xiàn)探傷室應(yīng)建立健全輻射安全管理制度及應(yīng)急預(yù)案。

題型:判斷題

產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線(xiàn)檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請(qǐng)進(jìn)行X射線(xiàn)檢測(cè)。

題型:判斷題

航天無(wú)損檢測(cè)人員的資格分為三個(gè)等級(jí):Ⅰ級(jí)為初級(jí),Ⅱ級(jí)為中級(jí),Ⅲ級(jí)為高級(jí)。其中Ⅱ級(jí)人員應(yīng)具備的能力有()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

X射線(xiàn)檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。

題型:判斷題

底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。

題型:判斷題

缺陷分類(lèi)應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線(xiàn)照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量,因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。

題型:判斷題

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見(jiàn)的要求,經(jīng)表面檢驗(yàn)合格,申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。

題型:判斷題

射線(xiàn)檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過(guò)底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。

題型:判斷題