單項(xiàng)選擇題在檢測(cè)儀器設(shè)備故障的過(guò)程中，發(fā)現(xiàn)某個(gè)電容被擊穿，此時(shí)（）即可。

A、應(yīng)更換一只相同容量的電容
B、可更換一只類型相同、參數(shù)略有差異的電容替代
C、應(yīng)更換一只型號(hào)、參數(shù)完全相同且符合原設(shè)計(jì)挑選要求的電容
D、一般不需要進(jìn)行任何處理


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1.單項(xiàng)選擇題在使用IC在線測(cè)試儀進(jìn)行LSI分析測(cè)試中，正確的說(shuō)法是（）。

A、芯片的每種邏輯功能均對(duì)應(yīng)于一個(gè)子測(cè)試
B、芯片的輸入輸入輸出關(guān)系可用真值表確定
C、可利用儀器生產(chǎn)廠家提供的測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)
D、可以判斷被測(cè)件的外特性是否正常

2.單項(xiàng)選擇題目前最先進(jìn)的IC在線測(cè)試儀約可測(cè)試（）的IC芯片。

A、約500種
B、約1000種
C、約2000種
D、超過(guò)3000種

4.單項(xiàng)選擇題600Mips代表微處理器的一項(xiàng)性能指標(biāo)，其含義是（）。

A、該微處理器每秒運(yùn)行6億次
B、該微處理器每秒執(zhí)行600萬(wàn)條指令
C、該微處理器每秒執(zhí)行600萬(wàn)次浮點(diǎn)運(yùn)算
D、該微處理器內(nèi)含600萬(wàn)個(gè)晶體管

5.單項(xiàng)選擇題在眾多新型高性能微處理器中，CISC與RISC保持倒流將是必然趨勢(shì)，其主要原因是（）。

A、制造容易 
B、可提高CPU運(yùn)行速度 
C、制造成本低廉 
D、可保證向上兼容