下列白盒測(cè)試方法的測(cè)試方法中，哪一個(gè)方法能發(fā)現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤，但是不能發(fā)現(xiàn)條件錯(cuò)誤？（）

敏捷開(kāi)發(fā)中用戶故事評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)3要素包括（）。

軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)下面對(duì)其描述正確的是（）

測(cè)試優(yōu)先級(jí)中，用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)，其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。

模擬負(fù)載測(cè)試需要通過(guò)一些參數(shù)的設(shè)定來(lái)實(shí)現(xiàn)，常見(jiàn)參數(shù)包括“并發(fā)用戶數(shù)、思考時(shí)間、價(jià)值循環(huán)次數(shù)或持續(xù)時(shí)間、請(qǐng)求的數(shù)據(jù)量和加載的方式”。

單元測(cè)試一般由專門的測(cè)試人員和開(kāi)發(fā)人員一起進(jìn)行。

H模型沒(méi)能體現(xiàn)“及早的和不斷的進(jìn)行軟件測(cè)試”原則。

測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但不包括下面哪個(gè)內(nèi)容？（）

在（）中，只需要考慮所有可能的執(zhí)行路徑，對(duì)于不可能執(zhí)行的路徑，是不需要考慮的。

在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。