A、發(fā)聲裝置
B、掃查架
C、探頭控制器
D、探測(cè)管
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、適用于穿透法探傷
B、適用于高速掃描技術(shù)
C、檢出傾斜向缺陷
D、便利不熟練的操作者
A.可檢出缺陷較小
B.可檢驗(yàn)厚度較大
C.上述AB均是
D.上述都不是
A、1MHZ
B、5MHZ
C、10MHZ
D、2.5MHZ
A、靈敏度
B、穿透力
C、分離
D、分辯力
A、距離----振幅高度
B、吸收電平
C、垂直極限
D、分辯率極限
最新試題
0度探測(cè)到螺孔向上斜裂紋時(shí),其傾角較小時(shí),一般表現(xiàn)為底波、螺孔波交替顯示遲緩或螺孔波變細(xì)。
瑞利波在傳播過程中遇到表面或近表面缺陷時(shí),部分聲波在缺陷處仍以瑞利波被反射,并沿試件表面返回。
當(dāng)軌端頂面不平時(shí),第一螺孔波多數(shù)不能正常顯示,一旦熒光屏在螺孔波刻度出現(xiàn)回波,一定就是第一螺孔朝第二螺孔上裂。
螺孔水平裂紋一般都在螺孔的中間部位,所以傷波顯示在螺孔波的中間。
使用超聲波探傷儀探測(cè)出的缺陷的當(dāng)量或延伸度與實(shí)際缺陷大小均有一定的誤差。
0度探頭B型顯示在軌顎線下方呈兩端稍傾的水平線(孔波圖),該線位置與螺孔頂面在鋼軌高度上相對(duì)應(yīng)。
后37度探頭A型顯示在熒光屏上先顯示裂紋回波后顯示螺孔回波。
軌腰斜裂紋回波顯示離基線0刻度(A型顯示)越遠(yuǎn)或圖形顯示(B型顯示)越近,則裂紋距軌面越深。
如懷疑為螺孔單側(cè)水平裂紋時(shí),可將0度探頭橫向移動(dòng),觀察傷波的變化情況,確定單側(cè)裂紋的具體部位。
對(duì)稱型的蘭姆波也叫S型蘭姆波。