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根據(jù)公式

聲壓反射率為50%，聲壓透過率150%

斜探頭主要用于探測與探測面垂直或成一定角度的缺陷。

雙晶探頭用于探測工件近表面缺陷。

主要用于探測與探測面平行的缺陷。

探頭的方向（尤其是斜探頭）應根據(jù)缺陷存在的規(guī)律進行布局和掃查。

探頭掃查線的相鄰距離應小于探頭的有效直徑，一般為探頭有效直徑的70%或應有探頭寬度10％的重疊。

可采用兩個斜探頭（一發(fā)一收），交叉60°～90°的掃查方式。

探頭移動過程中同時作10°～20°轉(zhuǎn)動，稱為擺動掃查。