A.底面橫波發(fā)射法
B.對(duì)比試塊法
C.計(jì)算法
D.心算法
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.5%
B.10%
C.15%
D.20%
A.100mm/s
B.150mm/s
C.200mm/s
D.250mm/s
A.最終熱處理之前
B.最終熱處理之后
C.熱處理前、后
D.以上都不是
A.15、2%
B.25、2%
C.15、3%
D.25、3%
A.測(cè)試距離-波幅當(dāng)量曲線(xiàn)
B.調(diào)整探傷靈敏度
C.對(duì)缺陷進(jìn)行定量
D.以上都是
最新試題
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
儀器水平線(xiàn)性影響()。
單探頭法容易檢出()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的()。