A.Φ5mm,2.5MHz
B.Φ6mm,5MHz
C.Φ5mm,5MHz
D.Φ8mm,2.5MHz
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A.減少
B.保持不變
C.增大
D.隨波長(zhǎng)均勻變化
A.近場(chǎng)區(qū)
B.遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)
C.超聲場(chǎng)
A.sinθ=直徑平方/4倍波長(zhǎng)
B.sinθ×直徑=頻率×波長(zhǎng)
C.sinθ=頻率×波長(zhǎng)
D.sin(θ/2)=1.22波長(zhǎng)/直徑
A.減少
B.保持不變
C.增大
D.隨波長(zhǎng)均勻變化
A.光電效應(yīng)
B.康普頓效應(yīng)
C.壓電效應(yīng)
D.熱效應(yīng)
最新試題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
板波檢測(cè)可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。