A.斜束檢測
B.磁致伸縮檢測
C.共振檢測
D.穿透式檢測
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A.1MHz
B.2.25MHz
C.5MHz
D.10MHz
A.0.2s
B.1.6us
C.16ms
D.4x103s
A.衰減
B.折射
C.聲束擴(kuò)散
D.飽和
A.sinØ=1/2直徑x波長
B.sinØ=直徑x頻率x波長
C.sinØ=頻率x波長
D.sinØ=1.22波長/直徑
A.密度
B.彈性
C.A和B
D.聲阻抗
最新試題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
探頭延檢測面水平移動(dòng),超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。