A.10mm
B.4密碼
C.1個(gè)波長
D.4倍波長
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.波形轉(zhuǎn)換
B.壓電效應(yīng)
C.折射
D.阻抗匹配
A.聲束擴(kuò)散
B.材質(zhì)衰減
C.儀器阻塞效應(yīng)
D.折射
A.雜亂
B.平行于晶粒流向
C.垂直線與晶粒流向之間
D.與晶粒流向成45º角
A.確定缺陷深度
B.評(píng)定表面缺陷
C.作為評(píng)定長條形缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
D.作評(píng)定點(diǎn)狀缺陷的標(biāo)準(zhǔn)
A.應(yīng)盡可能減小
B.使二次界面波在底面回波之前
C.使二次界面波在底面回波之后
D.應(yīng)盡可能的大
最新試題
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
用橫波斜探頭檢測,找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量()。
探頭延檢測面水平移動(dòng),超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。