A.軟件測(cè)試員的目的是發(fā)現(xiàn)軟件缺陷
B.軟件測(cè)試員的目的是發(fā)現(xiàn)軟件缺陷,盡可能早一些
C.軟件測(cè)試員的目的是發(fā)現(xiàn)軟件缺陷,盡可能早一些,并確保其得以修復(fù)
D.軟件測(cè)試員的目的是發(fā)現(xiàn)軟件缺陷,盡可能早一些,并將其得以修復(fù)
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A.單元測(cè)試
B.集成測(cè)試
C.確認(rèn)測(cè)試
D.驗(yàn)收測(cè)試
A.強(qiáng)度測(cè)試
B.壓力測(cè)試
C.容量測(cè)試
D.性能測(cè)試
A.隨機(jī)地選取測(cè)試數(shù)據(jù)
B.取一切可能的輸入數(shù)據(jù)作為測(cè)試數(shù)據(jù)
C.在完成編碼以后制定軟件的測(cè)試計(jì)劃
D.選擇發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤可能性大的數(shù)據(jù)作為測(cè)試數(shù)據(jù)
A.父模塊
B.子模塊
C.驅(qū)動(dòng)模塊
D.樁模塊
A.需求分析(編制產(chǎn)品說(shuō)明書(shū))
B.設(shè)計(jì)
C.編碼
D.產(chǎn)品發(fā)布
最新試題
使用QTP軟件進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試,下面對(duì)其中應(yīng)用描述錯(cuò)誤的是()
軟件測(cè)試的重要性不包括下面哪一個(gè)?()
在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是()。
測(cè)試進(jìn)度管理以進(jìn)度為首要目標(biāo),需把握好進(jìn)度與質(zhì)量、成本之間的關(guān)系。
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí),下面對(duì)其描述錯(cuò)誤的是()
()僅僅依賴(lài)于白盒測(cè)試,可能會(huì)有遺漏。
單元測(cè)試一般由專(zhuān)門(mén)的測(cè)試人員和開(kāi)發(fā)人員一起進(jìn)行。
下列白盒測(cè)試方法的測(cè)試方法中,哪一個(gè)方法能發(fā)現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤,但是不能發(fā)現(xiàn)條件錯(cuò)誤?()
下面對(duì)于開(kāi)發(fā)過(guò)程描述正確的是()
下列測(cè)試方法中,對(duì)白盒測(cè)試方法中相應(yīng)的邏輯覆蓋法描述錯(cuò)誤的是()