A.布爾真值法
B.狀態(tài)可靠度法
C.狀態(tài)富舉法
D.狀態(tài)窮舉法
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A.串聯(lián)系統(tǒng)
B.并聯(lián)系統(tǒng)
C.表決系統(tǒng)
D.失效系統(tǒng)
A.串聯(lián)系統(tǒng)
B.并聯(lián)系統(tǒng)
C.表決系統(tǒng)
D.失效系統(tǒng)
A.可靠性
B.可靠度
C.有效度
D.失效率
A.動(dòng)態(tài)指標(biāo)
B.靜態(tài)指標(biāo)
C.優(yōu)良指標(biāo)
D.使用壽命指標(biāo)
最新試題
GB 17626.3標(biāo)準(zhǔn)主載波（Key Carrier）射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試中，所采用的調(diào)制方式是（）
電子元器件降額設(shè)計(jì)可以延緩其參數(shù)退化，增加工作壽命，提高使用可靠性。
評(píng)估機(jī)械測(cè)試時(shí)，相同模具，外殼材料不同，不同材料的樣品都需要評(píng)估測(cè)試。
外部電源做ERP測(cè)試時(shí)，需要熱機(jī)半小時(shí)，才能進(jìn)行后續(xù)測(cè)試項(xiàng)。
濕度測(cè)試后要等試驗(yàn)樣品恢復(fù)到常溫下再評(píng)估耐壓測(cè)試。
請(qǐng)簡(jiǎn)述非散熱試驗(yàn)樣品與散熱試驗(yàn)樣品的區(qū)別。
完整的天線報(bào)告或規(guī)格書(shū)需包含以下哪些內(nèi)容？（）
什么是HASS？
請(qǐng)列出GB/T 2423.1-2008低溫試驗(yàn)的三種試驗(yàn)類(lèi)型并說(shuō)明他們之間的區(qū)別（試驗(yàn)樣品類(lèi)型、過(guò)程是否通電、選用氣流速度三方面）。
電路設(shè)計(jì)中，電阻選型無(wú)降額要求。