用AVG曲線評(píng)定缺陷時(shí)，其準(zhǔn)確性很大程度上取決于超聲波探傷儀和探頭的性能。

射線透過工件的兩個(gè)不同厚度的強(qiáng)度比值，稱為工件對(duì)比度。

直探頭縱波探傷時(shí)，工件上下表面不平行，會(huì)使底面回波變窄。

超聲探傷，被檢工件厚度大，應(yīng)考慮靈敏度補(bǔ)償。

透度計(jì)的主要用途是確定缺陷是否合格。

材質(zhì)和超聲頻率給定時(shí)，橫波對(duì)小缺陷的檢測(cè)靈敏度高于縱波。

探頭芯片輻射的縱波，其中心軸在線輻射聲壓與芯片直徑，聲程成正比。

滲透探傷的滲透性能主要是滲透能力和滲透速度。

對(duì)順磁性，逆磁性的工件，通常采用磁粉探傷方法檢測(cè)。

超聲波垂直入射到兩種介質(zhì)的界面上，其聲壓反射率和聲壓透射率之和為1。