單項(xiàng)選擇題滲透液對(duì)工件表面的潤(rùn)濕能力()。

A.是粘度的函數(shù),并隨表面張力的減小而增大
B.用接觸角表示,與表面張力無(wú)關(guān)
C.用接觸角度衡量,并隨表面張力增大而減小
D.用表面張力度量,并隨接觸角減小而增大


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1.單項(xiàng)選擇題下列哪種探頭可增大超聲波在粗晶材料中的穿透能力()。

A.大直徑高頻率探頭
B.小直徑高頻探頭
C.大直徑低頻率探頭
D.以上A和B

2.單項(xiàng)選擇題采用直接接觸法超聲波探傷時(shí),熒光屏上產(chǎn)生雜波和無(wú)規(guī)則信號(hào)的原因可能是()

A.細(xì)晶組織;
B.耦合劑不清潔;
C.表面粗糙;
D.粗晶組織

3.單項(xiàng)選擇題采用較高的探測(cè)頻率可以()。

A.提高對(duì)小缺陷的檢測(cè)能力
B.降低對(duì)缺陷的定位精度
C.減少對(duì)相鄰缺陷的分辨率

4.單項(xiàng)選擇題在探頭直徑不變的情況下,擴(kuò)散角小則聲束近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度必定()。

A.大
B.與擴(kuò)散角無(wú)關(guān)
C.小
D.應(yīng)視頻率和介質(zhì)特性綜合決定,不能一概而論

5.單項(xiàng)選擇題斜探頭分辨率的校定是用()。

A.用φ2mm平底孔
B.φ40,φ44,φ50三個(gè)同心圓弧面
C.R50和R100圓弧
D.窄槽處標(biāo)有85,91,100mm

最新試題

衍射時(shí)差法對(duì)缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測(cè)量精確,實(shí)時(shí)成像,快速分析。

題型:判斷題

為了減少側(cè)壁的影響,必要時(shí)可采用試塊比較法進(jìn)行定量,以便提高定量精度。

題型:判斷題

水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。

題型:判斷題

在檢測(cè)晶粒粗大和大型工件時(shí),應(yīng)測(cè)定材料的衰減系數(shù),計(jì)算時(shí)應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。

題型:判斷題

經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時(shí)間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。

題型:判斷題

液浸法探傷是使探頭發(fā)射的超聲波經(jīng)過(guò)一段液體后再進(jìn)入試件的檢測(cè)的方法。

題型:判斷題

由于圓柱形工件有一定的曲率,直探頭與工件直接接觸時(shí),接觸面為一條很寬的條形區(qū)域,從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。

題型:判斷題

非金屬夾雜等缺陷的聲阻抗與鋼的聲阻抗相差很小,聲波在缺陷上的透射和吸收明顯高于白點(diǎn)和氣孔等缺陷。

題型:判斷題

高溫探頭前面殼體與晶片之間采用特殊釬焊,使之形成高溫耦合層。

題型:判斷題

超聲波檢測(cè)中如果被檢工件衰減嚴(yán)重,定量會(huì)受到影響。

題型:判斷題