A.開(kāi)始增大
B.開(kāi)始減小
C.無(wú)顯著變化
D.突然下降
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A.B級(jí)高于A級(jí)
B.A級(jí)高于B級(jí)
C.A級(jí)等于B級(jí)
D.以上都不對(duì)
A.信噪比低
B.增大端部不可探區(qū)
C.周向靈敏度不均
D.易磨損探頭
下圖為試件電導(dǎo)率變化引起線圈阻抗變化的軌跡,比較圖中A、B兩點(diǎn)的電導(dǎo)率應(yīng)為()。
A.σA=σB
B.σA<σB
C.σA>σB
D.無(wú)關(guān)系
A.增加
B.減半
C.減小3/4
D.增加3倍
A.缺陷
B.電導(dǎo)率
C.尺寸
D.以上三項(xiàng)都可以
最新試題
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時(shí),若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會(huì)使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。
對(duì)于圓柱體而言,外圓徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱體時(shí),入射點(diǎn)處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷的定量依賴(lài)于缺陷的回波幅度。
經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時(shí)間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時(shí),而又沒(méi)有進(jìn)行適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償,會(huì)使定量誤差增加,精度下降。
電磁超聲探頭在工件的表層內(nèi)產(chǎn)生的渦流,在外加磁場(chǎng)的作用下,在工件中形成超聲波波源。
爬波在自由表面的位移有垂直分量,但不是純粹的表面波。
衍射時(shí)差法探傷,當(dāng)有缺陷存在時(shí),在直通波和底面反射波之間,接收探頭會(huì)接收到缺陷處產(chǎn)生的衍射波。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無(wú)機(jī)物絕緣體高溫同軸電纜。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測(cè)量精確,實(shí)時(shí)成像,快速分析。