A.信噪比低
B.增大端部不可探區(qū)
C.周向靈敏度不均
D.易磨損探頭
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下圖為試件電導(dǎo)率變化引起線圈阻抗變化的軌跡,比較圖中A、B兩點的電導(dǎo)率應(yīng)為()。
A.σA=σB
B.σA<σB
C.σA>σB
D.無關(guān)系
A.增加
B.減半
C.減小3/4
D.增加3倍
A.缺陷
B.電導(dǎo)率
C.尺寸
D.以上三項都可以
A.檢測頻率降低
B.線圈電感降低
C.線圈電阻降低
D.上述三項都對
最新試題
當(dāng)探頭與被檢工件表面耦合狀態(tài)不同時,而又沒有進行適當(dāng)?shù)难a償,會使定量誤差增加,精度下降。
動態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
缺陷垂直時,擴散波束入射至缺陷時回波較高,而定位時就會誤認為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
儀器時基線調(diào)節(jié)比例時,若回波前沿沒有對準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn),會使缺陷定位誤差增加。
檢測曲面工件時,探頭與工件接觸有兩種情況,一是平面與曲面接觸,另一種是將探頭斜楔磨成曲面,探頭與工件曲面接觸。
缺陷相對反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。
高溫探頭的外殼與阻尼塊為不銹鋼,電纜為無機物絕緣體高溫同軸電纜。
由于超聲波對進入面的表面粗糙度、入射超聲束的方向等有一定的要求,必要時應(yīng)通過增添專門的工序,采用經(jīng)批準(zhǔn)的加工方法準(zhǔn)備超聲波進入面。
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時,若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。