就是沒有雜質(zhì)和缺陷的半導體。摻入的雜質(zhì)可以分為施主雜質(zhì)和受主雜質(zhì)。
光輻射檢測器中存在的內(nèi)部噪聲主要由熱噪聲、散粒噪聲、半導體中產(chǎn)生的符合噪聲、溫度噪聲和閃爍噪聲。