A.缺陷橫截面積較大,且較接近探測表面 B.缺陷橫截面積較大,且較接近底面 C.缺陷橫截面積較小,但較接近探測表面 D.缺陷橫截面積較小,但較接近底面
A.隔離干擾源 B.把數(shù)字與模擬電路分開 C.濾波技術(shù) D.屏蔽技術(shù) E.采用隔離放大器