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熒光磁粉探傷過程中,當(dāng)不觀察磁痕時(shí)應(yīng)隨時(shí)關(guān)閉黑光燈,這樣可延長(zhǎng)黑光燈使用壽命,并可避免誤照人眼。
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判斷題
利用磁敏元件探測(cè)工件表面漏磁場(chǎng)時(shí),探測(cè)的靈敏度與檢查速度及工件大小無關(guān)。
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磁粉探傷不易發(fā)現(xiàn)點(diǎn)狀缺陷和與工件表面夾角小于20°的分層。
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