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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】WAT電性測(cè)試的主要項(xiàng)目有那些？
答案：
① 器件特性測(cè)試；
② Contact resistant （Rc）；...
② Contact resistant （Rc）；...
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問(wèn)答題
【簡(jiǎn)答題】工藝流程結(jié)束后有一步驟為WAT，其目的為何？
答案：
WAT(wafer acceptance test), 是在工藝流程結(jié)束后對(duì)芯片做的電性測(cè)量，用來(lái)檢驗(yàn)各段工藝流程是否符...
