下列白盒測(cè)試方法的測(cè)試方法中，哪一個(gè)方法能發(fā)現(xiàn)邏輯錯(cuò)誤，但是不能發(fā)現(xiàn)條件錯(cuò)誤？（）

測(cè)試進(jìn)度管理以進(jìn)度為首要目標(biāo)，需把握好進(jìn)度與質(zhì)量、成本之間的關(guān)系。

從一般意義看，測(cè)試結(jié)束的標(biāo)準(zhǔn)定義錯(cuò)誤的是（）

測(cè)試優(yōu)先級(jí)中，用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)，其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。

測(cè)試中有風(fēng)險(xiǎn)存在：基于所使用的測(cè)試工具、測(cè)試方法、用例的局限性，某些情況下軟件缺陷不會(huì)被發(fā)現(xiàn)；所以我們應(yīng)當(dāng)正確使用測(cè)試用例，保障滿足一定的覆蓋率。

測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但包括下面哪幾個(gè)內(nèi)容？（）

下面對(duì)測(cè)試需求分析描述不正確的是（）

（）僅僅依賴于白盒測(cè)試，可能會(huì)有遺漏。

下面對(duì)于開發(fā)過(guò)程描述正確的是（）

在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。