試證明圖（a）所示電路與圖（b）所示的機械系統(tǒng)具有相同的微分方程。圖（b）中Xr（t）為輸入，Xc（t）為輸出，均是位移量。
試分別寫出圖中各無源電路的輸入ur（t）與輸出uc（t）之間的微分方程。
已知系統(tǒng)的傳遞函數(shù)為 試?yán)L制系統(tǒng)的開環(huán)幅相頻率特性曲線并求閉環(huán)系統(tǒng)穩(wěn)定的臨界增益K值。
最新試題
采樣控制系統(tǒng)在采樣間隔期間，對作用于系統(tǒng)的擾動沒有補償作用。（）
系統(tǒng)中引入相位超前校正裝置后，系統(tǒng)的（）。
采用串聯(lián)滯后校正時，通?？墒剐Ｕ笙到y(tǒng)的增益剪切頻率ωc（）。
滯后校正的轉(zhuǎn)折頻率選得距截止頻率越遠(yuǎn)，滯后校正裝置本身在處造成的相角滯后就（）。然而，距越遠(yuǎn)，容易造成“（）”現(xiàn)象。
系統(tǒng)局部反饋通路中接入的校正裝置稱為（）校正裝置。
