某立方晶系晶體德拜花樣中部分高角度線條數(shù)據(jù)如表所列。試用“a-cos2θ”的圖解外推法求其點陣常數(shù)(準確到4位有效數(shù)字)。λ=0.154nm。
試借助PDF(ICDD)卡片及索引,對表1、表2中未知物質(zhì)的衍射資料作出物相鑒定。
最新試題
熱分析中,不同性質(zhì)的氣氛對測試結(jié)果沒有影響。
熱分析技術(shù)中,試樣用量越多,熱效應(yīng)大,內(nèi)部傳熱慢,溫度梯度大,導致峰形擴大,峰頂溫度滯后,容易使相鄰峰重疊,降低分辨率。
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導體、半導體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
利用電子探針對材料微區(qū)成分進行面分析,包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。
()需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。