底片清晰度與膠片顆粒度的關(guān)系是（）

一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）

當(dāng)射線穿透任何一物體時(shí)，部分被物體吸收，部分則穿透該物體，還有一部分則被構(gòu)成該物的原子內(nèi)電子向各方面散射，此散射為（）

在筒身外壁做曲面周向探傷時(shí)（r、R為簡體的內(nèi)、外徑），斜探頭（β為折射角）的臨界角應(yīng)滿足（）

使用變型波檢測的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

一般認(rèn)為表面波探測的有效深度約為（）

對軸類鋼制鍛件，用2.5P14的直探頭，在圓周面上用底波作基準(zhǔn)反射而進(jìn)行靈敏度調(diào)整時(shí)，該軸鍛件的直徑至少應(yīng)大于（）

原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。

以下耦合劑中，可用于粗糙表面檢測的是（）