造成光纜線路障礙的原因大致可分為外力因素、（）、（）、光纜自身缺陷等四大類。

光纜的中繼段測(cè)試又稱為（）測(cè)試。

目前用OTDR測(cè)量單模光纖，最常用的測(cè)試波長(zhǎng)是（）。

光纜接頭盒的種類較多，從接續(xù)方式上分為直通接續(xù)接頭盒和（）兩種。

終端盒成端是將光纜固定在終端盒上，把外線光纜中的光纖與（）沒有連接器的一端相熔接，把余纖收容在終端盒的收容盤內(nèi)。

當(dāng)光波在一長(zhǎng)度為10km的光纖中傳輸時(shí)，若輸出端的光功率為輸入端光功率的一半，光纖的損耗系數(shù)是（）。

局內(nèi)光纜有兩種程式，一種是（）；另一種是（）。

光由折射率為n1的光密介質(zhì)射向折射率為n2的光疏介質(zhì)時(shí)（n1＞n2），臨界角的正弦值為（）。

路由復(fù)測(cè)是以（）為依據(jù)，復(fù)核光纜路由的（）、敷設(shè)條件、預(yù)留位置、敷設(shè)環(huán)境以及（）的具體位置，復(fù)測(cè)路由的地面長(zhǎng)度等，為光纜的配盤、分屯以及敷設(shè)提供必要的條件。

光纖的熔接操作一般分為光纖端面的制備、（）和（）三個(gè)步驟。