問(wèn)答題對(duì)某平板工件進(jìn)行透照拍片時(shí),測(cè)得有缺陷部位的照射率比無(wú)缺陷部位的照射率高30%,假設(shè)在底片黑度范圍內(nèi)膠片的γ值為3,求有缺陷部位志無(wú)缺陷部位的黑度差?
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為了提高橫向缺陷檢出率,射線(xiàn)照相應(yīng)該采取下列中的哪個(gè)措施()
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