二次波檢測(cè)是一種特殊的檢測(cè)工藝，以下關(guān)于二次波檢測(cè)的做敘述，哪一條是錯(cuò)誤的（）

康普頓效應(yīng)對(duì)射線檢測(cè)的影響包括（）

調(diào)節(jié)掃描速度時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的水平刻度值。

通常所謂20KV的X射線是指（）

物質(zhì)對(duì)輻射的吸收是隨什么而變（）

底片清晰度與增感屏顆粒度的關(guān)系是（）

下列對(duì)耦合劑應(yīng)該具有的特點(diǎn)的描述，不正確的一項(xiàng)是（）

使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）

某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）

原子是元素的具體存在，是體現(xiàn)元素性質(zhì)的最小微粒。