閉環(huán)極點的積等于開環(huán)極點的積。（）

用根軌跡法設(shè)計系統(tǒng)的校正裝置，首先由給定的（）確定主導(dǎo)極點的位置：然后通過設(shè)置校正裝置的（）使根軌跡通過主導(dǎo)極點的預(yù)期位置；最后，計算預(yù)期位置處的根軌跡增益從而得到校正裝置（），通過增加（）滿足系統(tǒng)的靜態(tài)精度要求。

用根軌跡法進行系統(tǒng)校正，是將高階系統(tǒng)看作次阻尼二階系統(tǒng)進行設(shè)計，所以，在校正裝置設(shè)計之后，需要進行（），看被忽略掉的系統(tǒng)極點對系統(tǒng)動態(tài)性能的影響。正因為降階處理的粗略性，設(shè)計初確定主導(dǎo)極點位置時需要留出（）。

在負反饋系統(tǒng)中，若開環(huán)傳遞函數(shù)增加了一個位于s左半平面的極點，則其根軌跡（）。

采樣控制系統(tǒng)在采樣間隔期間，對作用于系統(tǒng)的擾動沒有補償作用。（）