每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu)，晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。

利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。

紅外光分為（）。

在電子探針中，測(cè)定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀，簡(jiǎn)寫為（）。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。