判斷題邁克爾遜干涉儀只能采用空間光學(xué)元件構(gòu)成。
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1.單項(xiàng)選擇題高斯型光譜形狀的光源的干涉條紋的包絡(luò)呈現(xiàn)()
A.矩型
B.高斯型
C.sinc函數(shù)型
D.直線型
2.多項(xiàng)選擇題關(guān)于Verodyne公司HDL64E激光雷達(dá)的敘述正確的是()
A.激光裝置做勻速旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)實(shí)現(xiàn)方位角掃描
B.激光束的水平角度根據(jù)編碼盤獲取
C.俯仰角度通過預(yù)設(shè)的激光發(fā)射/接收單元陣列組成
D.采用激光脈沖測(cè)距
3.單項(xiàng)選擇題偏振耦合檢測(cè)儀的偏振調(diào)整光學(xué)結(jié)構(gòu)中,其探測(cè)器1輸出為兩光場(chǎng)分量的強(qiáng)度相加,其原因是()
A.兩光場(chǎng)分量偏振方向相互垂直不干涉
B.沒有光程差補(bǔ)償時(shí),超出光源相干長(zhǎng)度,無干涉項(xiàng)
C.探測(cè)器分別響應(yīng)兩光場(chǎng)分量
D.兩光場(chǎng)分量頻率相差大
4.多項(xiàng)選擇題光源相干性會(huì)受到哪些因素影響?()
A.光源光譜寬度
B.光源輸出光功率
C.光源發(fā)光面尺寸
D.光源中心波長(zhǎng)
5.多項(xiàng)選擇題表面特征檢測(cè)的掃描技術(shù)主要分為()
A.透射光檢測(cè)法
B.反射光檢測(cè)法
C.散射光檢測(cè)法
D.掃描頻譜分析法
最新試題
以下效應(yīng)可用于普朗克常量測(cè)量的是()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
以下主要利用光伏效應(yīng)的光電器件有()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
電光效應(yīng)反映介質(zhì)折射率與電場(chǎng)強(qiáng)度可能呈()。
題型:多項(xiàng)選擇題
以下屬于聲光調(diào)制晶體的有()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
下列應(yīng)用屬于光度測(cè)量方法應(yīng)用的是()。
題型:多項(xiàng)選擇題
具有光伏型伏安特性的光電檢測(cè)器件包括()。
題型:多項(xiàng)選擇題
在設(shè)計(jì)和分析交變光信號(hào)檢測(cè)電路頻率特性時(shí),應(yīng)包括下列()基本內(nèi)容。
題型:多項(xiàng)選擇題
光電探測(cè)器的選擇要點(diǎn)包括()。
題型:多項(xiàng)選擇題
半導(dǎo)體激光器在激光外徑掃描儀中起到提供光源的作用。
題型:判斷題
以下是CCD的發(fā)明者有()。
題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題